基于边界扫描技术的MACRO测试语言应用及分析

作     者：王凤驰 陈常青 李正东 Fengchi Wang;Changqing Chen;Zhengdong Li

作者机构：中国电子科技集团电子第三十八研究所安徽合肥230031 

出 版 物：《电子科学技术》 (Electronic Science & Technology)

年 卷 期：2015年第2卷第4期

页      码：470-474页

摘      要：MACRO测试语言作为边界扫描测试基础上的延伸,继承了边界扫描测试的优点,同时更具灵活性。对于LVDS传输、特殊存储器等,在现有边界扫描测试无法直接用模型解决的情况下,MACRO测试填补了这一空白。文中对MACRO测试的程序设计方法、适用条件等做了介绍,同时通过LVDS传输电路、双端口存储器电路的不同特点,做了程序上的对比分析。通过分析结果不难发现MACRO测试灵活性大的优势,因此能够在测试技术中占据一席之地,并得到更广泛的应用。

主 题 词：MACRO测试 边界扫描 特殊电路 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16453/j.issn.2095-8595.2015.04.016

馆 藏 号：203432761...