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BESⅢMuon鉴别器电子学系统的VME控制/扇出插件的设计和测试

BESⅢMuon鉴别器电子学系统的VME控制/扇出插件的设计和测试

作     者:程泽浩 梁昊 虞孝麒 周永钊 CHENG Ze-hao;LIANG Hao;YU Xiao-qi;ZHOU Yong-zhao

作者机构:中国科学技术大学近代物理系合肥230027 

基  金:北京正负电子对撞机重大改造工程项目的支持 

出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期:2008年第28卷第3期

页      码:560-562页

摘      要:本文介绍了BESIII Muon鉴别器读出电子学系统的VME控制/扇出插件的设计,其中包括插件的功能和结构,插件上FPGA逻辑的设计等。插件在制作和调试完成后,进行了相关功能和稳定性的测试。

主 题 词:BESⅢ Muon鉴别器 VME FPGA 控制/扇出插件 

学科分类:082704[082704] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.0258-0934.2008.03.027

馆 藏 号:203433216...

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