验证BIT测试性指标的总线级故障注入系统及其设计

作     者：刘丹丹 王晓峰 Liu Dandan;Wang Xiaofeng

作者机构：中国航空综合环境航空科技重点实验室北京100028 北京航空航天大学工程系统工程系北京100083 

出 版 物：《航天器环境工程》 (Spacecraft Environment Engineering)

年 卷 期：2008年第25卷第5期

页      码：479-484,400页

摘      要：文章详细分析了机内测试(BIT,Built-in test)系统的测试性指标验证和评价的重要性与实用性,并着重介绍了用于BIT测试性指标验证的总线级故障注入系统及其硬件、软件设计以及该系统的工作流程,并通过时序分析证明了该系统进行实时故障注入的可实现性和可操作性,最后给出了该系统进行故障注入试验后的软硬件试验结果。

主 题 词：测试性 机内测试 总线级 故障注入 故障诊断 

学科分类：08[工学] 082503[082503] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1673-1379.2008.05.018

馆 藏 号：203438812...