看过本文的还看了

正在加载...

相关文献

正在加载...

该作者的其他文献

正在加载...
文献详情 >C8051F005在高速误码测试系统中的运用 收藏
C8051F005在高速误码测试系统中的运用

C8051F005在高速误码测试系统中的运用

作     者:李卫国 黄秋元 陈伟 Li Weiguo;Huang Qiuyuan;Chen Wei

作者机构:武汉理工大学 

基  金:湖北省自然科学基金资助项目(2004ABA045) 

出 版 物:《单片机与嵌入式系统应用》 (Microcontrollers & Embedded Systems)

年 卷 期:2007年第7卷第8期

页      码:48-52页

摘      要:根据VSC8228芯片特点,利用C8051F005单片机提出一种价廉的高速误码测试系统的设计方案,误码仪可测试的速度高达4.25Gbps;着重讲述误码测试系统的软硬件设计,特别是C8051F005单片机在该系统中的SPI通信及与PC上位机的串口通信。

主 题 词:C8051F005 高速 SPCOMM串行通信 SPI 

学科分类:0711[理学-心理学类] 0810[工学-土木类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D O I:10.3969/j.issn.1009-623X.2007.08.015

馆 藏 号:203440257...

读者评论 与其他读者分享你的观点

正在加载...
用户名:未登录
我的评分 12345