工业CT含噪图像中的裂纹探测

作     者：李宗剑 曾理 LI Zong-jian;ZENG Li

作者机构：重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室ICT研究中心重庆400044 重庆大学光电工程学院重庆400044 重庆大学数理学院重庆400044 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.60672098 No.60972104) 

出 版 物：《光学精密工程》 (Optics and Precision Engineering)

年 卷 期：2010年第18卷第2期

页      码：451-457页

摘      要：提出一种基于快速Beamlet变换的工业CT含噪图像的裂纹探测方法。首先,分析图像在单尺度下的Beamlet组成以及Beamlet间的相互关系,设计出一种快速Beamlet变换。基于快速Beamlet变换,引入一个关于吻合度的控制量,并结合Beamlet自身的多尺度树型结构,采取"自上向下"寻找目标函数最优值的思路,得到裂纹的探测结果。最后,结合探测结果的相邻区域的像素特性,提取出含噪裂纹的区域边界。分别对含有裂纹的CT图像,以及叠加方差为0.1的高斯白噪声图像,叠加强度为0.1的椒盐噪声图像进行探测实验。结果表明,与基于Laplace、Canny或小波的探测方法相比,该方法能有效探测到工业CT含噪图像中的裂纹。因为Beamlet是以线基的方式分析图像数据,所以该方法对噪声干扰具有很好的抑制能力,成功实现了工业CT含噪图像中的裂纹探测。

主 题 词：工业CT 裂纹探测 快速Beamlet变换 噪声图像 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081203[081203] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 0835[0835] 0702[理学-物理学类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203441258...