基于USB2.0的通用FLASH存储器检测系统设计

作     者：秦丽 何慧珠 张会新 QIN Li;HE Hui-zhu;ZHANG Hui-xing

作者机构：中北大学电子测试技术国家重点实验室太原030051 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50675213) 

出 版 物：《电测与仪表》 (Electrical Measurement & Instrumentation)

年 卷 期：2008年第45卷第4期

页      码：61-64页

摘      要：本文针对SAMSUNG公司的NAND型Flash提出了一种通用的Flash检测系统的设计方案,此方案同时用于数据采集系统的数据读出。采用FPGA作为主控制器对FLASH进行操作,系统与主机之间采用USB2.0接口芯片CY7C68013实现通信。针对Flash中的无效块问题,本文提出一种Flash坏块的检测处理方案,这种方法也适用于大容量数据采集系统中。

主 题 词：NANDFlash USB FPGA 无效块 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-1390.2008.04.016

馆 藏 号：203448063...