ITER超导接头铜材热损耗实验研究

作     者：邹春龙 宋云涛 吴欢 商明明 谢延玉 沈光 吴维越 Zou Chunlong;Song Yuntao;Wu Huan;Shang Mingming;Xie Yanyu;Shen Guang;Wu Weiyue

作者机构：中国科学院等离子体物理研究所合肥230031 

基　　金：国家自然科学基金面上项目(51177164) 

出 版 物：《低温工程》 (Cryogenics)

年 卷 期：2015年第1期

页      码：34-36,59页

摘      要：为了评估ITER超导接头所采用的铜材的热损耗影响,设计并搭建了用于测试剩余电阻率的实验平台。通过对所选用的铜材进行低温4.2 K和常温下的电阻率测试,计算了铜材的剩余电阻率。结果表明,所选用的铜材能够满足ITER双盒搭接接头铜材的设计要求。

主 题 词：超导接头 双盒搭接 热损耗 剩余电阻率 

学科分类：080705[080705] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-6516.2015.01.007

馆 藏 号：203448166...