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表面等离子共振成像非标记微阵列芯片检测

表面等离子共振成像非标记微阵列芯片检测

作     者:邓橙 徐书宽 朱疆 黄国亮 

作者机构:清华大学医学院清华大学生物科学与技术系生物芯片北京国家工程研究中心北京102206 

基  金:国家"863"高技术资助项目(2006AA020701 2006AA020803) 国家"973"基础研究基金资助项目(2006CB705700) 浙江省科技攻关重点资助项目(2006C21G3210005) 清华大学基础研究基金资助项目(052205003) 清华-裕元医学科学研究基金资助项目(40000510B) 

出 版 物:《光电子.激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期:2009年第20卷第3期

页      码:366-368页

摘      要:采用表面化学修饰的镀金玻片作为芯片基质,结合微阵列点样分配技术,设计制作了1种非标记寡核苷酸检测芯片和1种非标记蛋白检测芯片,使用自行构建的表面等离子共振成像(SPRI)检测仪器,成功实现了对寡核苷酸靶标和抗体靶标的非标记、高通量检测分析,研究了核酸和蛋白分子的特异性相互作用,并使用微珠有效增强了芯片的检测信号。

主 题 词:表面等离子共振成像(SPRI) 微阵列芯片 非标记 高通量 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录:

D O I:10.16136/j.joel.2009.03.014

馆 藏 号:203448348...

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