一种星载微波开关在轨可靠性验证试验设计

作     者：操基德 徐丽丽 杨倩 Cao Ji-de;Xu Li-li;Yang Qian

作者机构：中国电子科技集团公司第四十研究所安徽蚌埠233010 浙江海洋大学数理与信息学院浙江舟山316004 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2018年第12期

页      码：43-46页

摘      要：提出了一种基于产品结构特点与实际应用状态,结合传统可靠性试验技术的试验验证思路。结合某星载大功率微波开关实例进行了可靠性验证试验的设计,验证了该方法的实用可行性与工程化前景。

主 题 词：星载微波开关 可靠性验证 

学科分类：08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

馆 藏 号：203454155...