成像光学系统杂光系数分析与计算

作     者：孙林 崔庆丰 Sun Lin;Cui Qingfeng

作者机构：长春理工大学光电工程学院吉林长春130022 

基　　金：国家重大科技专项高分专项(51-H34D01-8358-13/16) 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：2018年第55卷第12期

页      码：502-506页

摘      要：杂光系数是评价光学系统成像质量的重要指标之一。一般情况下,杂光系数只有在光学系统加工完成之后,才能运用实测方法得到,且如果实测结果不理想,需对光学系统的杂光抑制方法进行调整以增强其抑制效果。针对上述问题,提出了一种在光学设计阶段求得杂光系数的方法。该方法运用光学仿真软件TracePro为光学系统建模、分析和光线追迹,运用数学分析软件Matlab对仿真结果进行拟合,最终求出杂光系数。该方法的优点是将杂光系数的分析与计算提前,准确评价光学系统的杂光抑制能力。

主 题 词：成像系统 杂光 杂光系数 成像光学系统 杂光抑制 

学科分类：0808[工学-自动化类] 070207[070207] 0809[工学-计算机类] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/LOP55.122901

馆 藏 号：203454544...