一个连接CAD和ATE的接口

作     者：李建宇 周世英 林争辉 

作者机构：上海交通大学大规模集成电路研究所 

基　　金：国家"八五"科技攻关课题 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：1998年第28卷第1期

页      码：10-15页

摘      要：研究了测试开发系统（ＴｅＤＳ）中ＣＡＤ逻辑模拟验证结果向ＡＴＥ的移植问题，提出并采用了元测试语言的策略。把ＰＡＮＤＡ工作站的模拟验证结果转换成元测试语言的图形格式，并把转换后的数据以时序波形的形式显示。

主 题 词：集成电路 自动测试设备 计算机辅助设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203456042...