并行折叠计数器的BIST方案

作     者：梁华国 李鑫 陈田 王伟 易茂祥 LIANG Hua-guo;LI Xin;CHEN Tian;WANG Wei;YI Mao-xiang

作者机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥23009 合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥23009 

基　　金：国家自然科学基金(No.60876028) 博士点基金(No.200803590006) 安徽高校省级自然科学研究重点项目(No.KJ2010A280) 

出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期：2012年第40卷第5期

页      码：1030-1033页

摘      要：本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构,并给出了建议的多扫描链的BIST方案.与国际上同类方法相比,该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间,其平均测试应用时间是同类方案的0.265%,并且能很好地适用于传统的EDA设计流程.

主 题 词：内建自测试 线性反馈移位寄存器 并行折叠计数器 多扫描链 测试数据压缩 

学科分类：080903[080903] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0372-2112.2012.05.027

馆 藏 号：203457723...