TFT-LCD屏缺陷检测的研究

作     者：屈惠明 

作者机构：南京电子器件研究所 

出 版 物：《光电子技术》 (Optoelectronic Technology)

年 卷 期：1997年第17卷第2期

页      码：102-109页

摘      要：分析了国外目前常用几种薄膜晶体管（TFT）有源矩阵液晶显示（AM－LCD）屏的缺陷检测方法的优缺点。深入研究了TFT－LCD屏的结构、缺陷产生的原因和概率，设计了一种能全面、直观地进行TFT－LCD缺陷检测的方法，该方法不仅能检测出TFT－LCD中各种常见的断短路等硬性缺陷并确定其具体位置，而且能根据TFT－LCD屏质量要求对软性缺陷进行判定。

主 题 词：TFT-LCD 缺陷检测 有源矩阵液晶显示 薄膜晶体管 短路 位置 判定 常见 体位 研究 

学科分类：0810[工学-土木类] 080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.19453/j.cnki.1005-488x.1997.02.012

馆 藏 号：203470157...