X光背光观测烧蚀面扰动引起内界面扰动的增长

作     者：袁永腾 缪文勇 丁永坤 鄢扬 赵宗清 刘慎业 刘忠礼 张继彦 黄翼翔 杨国洪 张海鹰 曹柱荣 胡昕 于燕宁 张文海 YUAN Yong-teng;MIAO Wen-yong;DING Yong-kun;YAN Yang;ZHAO Zong-qing;LIU Shen-ye;LIU Zong-li;ZHANG Ji-yan;HUANG Yi-xiang;YANG Guo-hong;ZHANG Hai-ying;CAO Zhu-rong;HU Xin;YU Yan-ning;ZHANG Wen-hai

作者机构：电子科技大学物理电子学院成都610054 中国工程物理研究院激光聚变研究中心四川绵阳621900 

基　　金：国家863计划项目资助课题 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2007年第19卷第4期

页      码：625-628页

摘      要：侧向背光照相能直接反映靶表面扰动幅度的变化情况。在神光Ⅱ装置上,实验利用侧向背光照相技术,对烧蚀面扰动引起的内界面扰动增长进行了观测。实验结果表明,观察到的内界面扰动幅度大于期望值。分析认为,造成内界面较大扰动增长的原因主要是2维效应。X光辐照的主要是烧蚀面的中间部分,烧蚀面扰动引起的内界面的扰动就呈现出一幅从中间的扰动区域逐渐过渡到四周的图像。由此,提出了新的靶优化设计方案,应尽可能减小沿背光方向的样品尺寸。

主 题 词：流体力学不稳定性 烧蚀面 侧向背光照相 2维效应 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 07[理学] 070204[070204] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

馆 藏 号：203470940...