高梯度绝缘子初步研究及Kapton绝缘性能分析

作     者：屈立辉 刘列 徐启福 文建春 QU Li-hui;LIU Lie;XU Qi-fu;WEN Jian-chun

作者机构：国防科技大学光电科学与工程学院湖南长沙410073 

出 版 物：《高压电器》 (High Voltage Apparatus)

年 卷 期：2007年第43卷第4期

页      码：253-255,259页

摘      要：为发展高梯度绝缘子,介绍了这种新型绝缘子的耐压机理,利用单电子理论对绝缘层厚度进行了初步的定量估计,从材料耐热性能、出气率、介电常数、耐辐射等几个方面对Kapton用于真空高压绝缘的优越性进行了讨论,利用经验公式绘制了Kapton材料的二次电子发射数量随能量的变化关系曲线图,对实际设计微堆层绝缘子具有参考价值。

主 题 词：高梯度绝缘子 二次电子 高压绝缘:缩聚类芳香族聚酰亚胺Kapton 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-1609.2007.04.005

馆 藏 号：203471027...