E^2PROM存贮器失效分析及可靠性设计技术研究

作     者：于宗光 夏树荣 叶守银 黄卫 

作者机构：中国华晶电子集团公司中央研究所无锡214035 

出 版 物：《微电子技术》 (Microelectronic Technology)

年 卷 期：1997年第25卷第3期

页      码：39-54页

主 题 词：E^2PROM 存贮器 失效分析 可靠性 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203471249...