基于二维测试数据压缩的BIST方案

作     者：周彬 叶以正 李兆麟 Zhou Bin;Ye Yizheng;Li Zhaolin

作者机构：哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨150001 清华大学信息技术研究院北京100084 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2009年第21卷第4期

页      码：481-486,492页

摘      要：为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试集嵌入技术的种子选择算法,将确定性的测试集压缩成很小的种子集.基于ISCAS89标准电路的实验结果表明,采用文中方案所实现的测试电路与已有方案相比:存储位数平均减少了44%,测试向量的长度平均减少了79%,硬件开销平均减少了41%.

主 题 词：内建自测试 测试数据压缩 输入精简 扭环计数器 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

核心收录：

馆 藏 号：203487038...