正压检漏法在密封舱整体漏率设计及检测中的应用

作     者：万越 唐林卡 范宇 侯炳昕 詹少坤 Wan Yue;Tang Linka;Fan Yu;Xie Hou Bing xin;Zhan Shaokun

作者机构：北京航天长征飞行器研究所 中国运载火箭技术研究院 中国人民解放军94326部队 

出 版 物：《科技创新导报》 (Science and Technology Innovation Herald)

年 卷 期：2015年第12卷第22期

页      码：159-160,187页

摘      要：该文应用罩盒累积提高正压检漏法的检漏灵敏度,应用该检漏方法识别出影响密封舱整体漏率的薄弱环节,针对薄弱环节采取结构形式改进和密封圈材料更换等方法提高对接面处密封性能,从而达到降低密封舱整体漏率的目的。

主 题 词：密封舱 氦质谱检漏 正压检漏 整体漏率 局部漏率 

学科分类：08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-098X.2015.22.071

馆 藏 号：203490065...