基于ADF4002的低相噪取样本振设计

作     者：李柏林 陈丽 郝绍杰 Li Bailin;Chen Li;Hao Shaojie

作者机构：中国电子科技集团公司第四十一研究所青岛266555 

出 版 物：《国外电子测量技术》 (Foreign Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2012年第31卷第6期

页      码：51-54页

摘      要：本文设计并实现了一种微波锁相环中取样器的本振电路,取样本振以频率合成芯片ADF4002为鉴相器,反馈通道采用内插混频器的结构,避免了单环通过简单倍频产生的相位噪声恶化。详细阐述了取样本振电路的实现方案和工作原理,并使用仿真软件对环路滤波器进行设计。通过实验测试,输出频率为214.815MHz时锁相环的相位噪声为:-137dBc/Hz@10kHz、-140dBc/Hz@100kHz,最大输出频率间隔1MHz,满足了取样本振的低相位噪声和高频率分辨率的要求。

主 题 词：取样本振 相位噪声 锁相环 混频 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-8978.2012.06.015

馆 藏 号：203494611...