JTAG技术的发展和应用综述

作     者：胡学良 张春 王志华 HU Xue-liang;ZHANG Chun;WANG Zhi-hua

作者机构：清华大学电子工程系线路与系统教研室北京100084 

基　　金：国家重大基础研究发展计划"系统芯片(SOC)的若干关键技术"资助项目(G2000036508) 国家高技术研究发展计划"SOC片上系统重大专项"资助项目(2003AA1Z1100) 国家自然科学基金资助项目(60372021) 

出 版 物：《微电子学》 (Microelectronics)

年 卷 期：2005年第35卷第6期

页      码：624-630页

摘      要：JTAG作为测试标准已为芯片设计与制造厂商接受和应用。文章概述了JTAG技术在测试领域的典型应用。同时,随着深亚微米工艺的采用,以及千兆时钟时代的来临和SOC的发展,JTAG已出现很多新的应用和实现方法。着重探讨了JTAG的发展,及其在信号完整性测试、嵌入式调试、差分信号测试等技术中的应用。

主 题 词：JTAG SOC 嵌入式在线仿真器 EJTAG 信号完整性 测试标准 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-3365.2005.06.015

馆 藏 号：203495400...