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利用二次采样技术进行扫频测量非线性抑制

利用二次采样技术进行扫频测量非线性抑制

作     者:景永奇 何国瑜 许鼎 Jing Yongqi, He Guoyu, Xu Ding (Dept. of Electronic Engineering, Beijing University of Aeron autics and Astronautics, Beijing 100083)

作者机构:北京航空航天大学电子信息工程学院北京100083 

出 版 物:《微波学报》 (Journal of Microwaves)

年 卷 期:2003年第19卷第4期

页      码:92-95页

摘      要:基于溅散板型抛物面天线产生的已知参考信号 ,介绍了一种通过对FM/CW近程雷达回波中频信号进行二次采样抑制VCO扫频非线性的技术。给出了天线设计特点以及这种方法的基本原理和注意事项。此外 ,在暗室内进行的模拟实验表明 ,这种方法设计合理 ,可行有效 。

主 题 词:二次采样 溅散板型抛物面天线 扫频非线性 VCO 近程雷达 

学科分类:080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1005-6122.2003.04.022

馆 藏 号:203496107...

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