孔缝对内置电路板壳体屏蔽效能的影响

作     者：安静 武俊峰 吴一辉 AN Jing;WU Jun-feng;WU Yi-hui

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室长春130033 中国科学院研究生院北京100039 

基　　金：中国科学院"十一五"支撑技术研究项目(No.61501.02.03.04) 

出 版 物：《微波学报》 (Journal of Microwaves)

年 卷 期：2011年第27卷第2期

页      码：34-37页

摘      要：电子设备屏蔽效能的好坏直接影响着电路系统的电磁兼容性能,而其金属壳体上的孔缝造成的电磁泄漏是一个不容忽视的问题。以内置电路板的开缝屏蔽壳体为研究对象,应用FEM(有限元法)分析了不同的孔缝尺寸、电路板尺寸、电路板位置对壳体屏蔽效能的影响。并进一步研究了电路板上金属微带线受电磁干扰信号影响而产生感应电流的变化规律:走线越长,离缝隙越近,感应电流数值越大,其峰值出现在腔体的谐振频率处。根据计算结果,提出了优化设计屏蔽腔及其腔内电子设备的建议。本文研究对于更为有效地利用金属壳体防御电磁干扰,提高系统电磁兼容性具有指导意义。

主 题 词：孔缝 屏蔽效能 有限元法 金属壳体 电路板 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.14183/j.cnki.1005-6122.2011.02.007

馆 藏 号：203496107...