硫酸钙对等值盐密贡献的定量分析与验证

作     者：刘煜 王少俊 范立群 刘基勋 LIU Yu;Wang ShaoJun;FAN Liqun;LIU Jixun

作者机构：河南电力试验研究院郑州450052 河南职业技术师范学院新乡453003 河南省电力勘测设计院郑州450007 

出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期：2005年第31卷第2期

页      码：9-11,15页

摘      要：定量计算了CaSO4对等值盐密(ESDD)的贡献,并通过比较闪络电压Uf的实测值与计算值给出了间接验 证。结果表明,CaSO4对X-4.5型绝缘子实际盐密的贡献值≤9.4μg/cm2,其表观盐密数值范围是0～0.31mg/ cm2。污秽中w(CaSO4)>18.32mg时表观盐密高于实际盐密。用实际盐密修正表观盐密可使Uf的计算值与实 测值基本吻合。用NaCl和CaSO4混合盐进行的人工污秽试验表明,Uf随混合盐中w(CaSO4)增加而升高的主要 原因是实际盐密随着w(CaSO4)增加而下降。自然污秽绝缘子Uf高于人工污秽的重要原因是其w(CaSO4)高,使 实际盐密显著小于表观盐密。该结果可供用光纤传感器和光谱法测量盐密时参考。

主 题 词：绝缘子表面污秽 等值盐密 闪络电压 硫酸钙(CaSO4) 定量分析 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-6520.2005.02.004

馆 藏 号：203501012...