数字辐射成像系统阵列探测器成像变形分析

作     者：苗积臣 刘锡明 吴志芳 MIAO Ji-chen;LIU Xi-ming;WU Zhi-fang

作者机构：清华大学核能技术设计研究院501室北京100084 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2006年第26卷第4期

页      码：417-420页

摘      要：在数字辐射系统(DR)如60Co集装箱检测系统(TC-SCAN系统),采用圆弧形和直线(折线)形两种形式的线探测器阵列,分析了两种探测器阵的成像变形,设计了削减这种变形的算法并在TC-SCAN集装箱检测系统中取得较好的应用。

主 题 词：TC-SCAN系统 探测器阵列 数字辐射成像系统 成像分析 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0258-0934.2006.04.008

馆 藏 号：203501464...