基于断言合成的验证方法学及应用

作     者：王锐 冯煌 WANG Rui;FENG Huang

作者机构：安传达公司上海201203 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2013年第22卷第10期

页      码：50-57页

摘      要：基于断言的验证方法已经广泛应用于芯片设计验证,其主要作用是提高验证效率和验证质量。由于手工设计的断言需要耗费大量人力和时间,使得断言的应用受到很大限制。断言合成可以自动生成高质量的白盒电路断言。本文介绍了一种基于断言合成的验证方法学与流程,以及其在验证流程中的多个应用:评估验证过程的进度;协助完成IP的coverage signoff;帮助在硬件仿真时发现问题,并且在验证的不同阶段协助发现或者快速定位芯片设计中的缺陷。

主 题 词：断言合成 白盒化验证 覆盖率 验证过程 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2013.10.009

馆 藏 号：203504451...