TGC放大器成形甄别器及测试系统

作     者：李锋 金革 杨涛 虞孝麒 LI Feng;JIN Ge;YANG Tao;YU Xiaoqi

作者机构：中国科学技术大学近代物理系合肥230026 

基　　金：国家自然科学基金国际合作重大项目(0051140291)资助 

出 版 物：《核技术》 (Nuclear Techniques)

年 卷 期：2006年第29卷第8期

页      码：614-618页

摘      要：本文分析了ASD板在ATLAS探测器最外层的μ子探测器中的工作环境以及作用,并按照其对ASD板质量的要求设计了一套对ASD板质量的专用批量测试系统。本文详细叙述了测试系统的构成、测试原理以及对ASD板的测试结果。

主 题 词：TGC ASD 测试系统 设计 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:0253-3219.2006.08.013

馆 藏 号：203510096...