基于测试码的测试:多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

作     者：Jack Weimer 

作者机构：泰瑞达Eagle业务部 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2010年第19卷第8期

页      码：64-66页

摘      要：1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来，模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足，使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展，寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进，以实现更高的并行测试效率。

主 题 词：测试效率 混合信号 并行 器件 模拟 测试码 测试系统 批量测试 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

馆 藏 号：203518300...