基于伯努利分布的逻辑电路可靠度计算方法

作     者：蔡烁 邝继顺 刘铁桥 凌纯清 尤志强 CAI Shuo;KUANG Ji-shun;LIU Tie-qiao;LING Chun-qing;YOU Zhi-qiang

作者机构：湖南大学信息科学与工程学院湖南长沙410082 长沙理工大学计算机与通信工程学院湖南长沙410114 杭州电子科技大学管理学院浙江杭州310018 

基　　金：国家自然科学基金(No.61303042 No.60773207 No.61472123) 湖南省教育厅科研基金(No.14C0028) 

出 版 物：《电子学报》 (Acta Electronica Sinica)

年 卷 期：2015年第43卷第11期

页      码：2292-2297页

摘      要：在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.本文提出了一种利用概率统计模型计算逻辑电路可靠度的方法,将电路中的每个逻辑门是否正常输出看作一次随机事件,则发生故障的逻辑门数为某个特定值的概率服从伯努利分布;再利用实验统计单个逻辑门出错时电路的逻辑屏蔽特性,根据此方法计算出ISCAS’85和ISCAS’89基准电路可靠度的一个特定范围.理论分析和实验结果表明所提方法是准确和有效的.

主 题 词：软错误 可靠度 概率统计模型 逻辑屏蔽 伯努利分布 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0372-2112.2015.11.023

馆 藏 号：203520814...