一种使用双极工艺的温度检测电路

作     者：易峰 张又丹 郭海平 何颖 YI Feng;ZHANG You-dan;GUO Hai-ping;HE Ying

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2011年第11卷第4期

页      码：35-38页

摘      要：温度检测是芯片和系统中经常需要的功能,温度检测电路的应用非常广泛。文章详细分析了与温度成正比（PTAT）电压的产生原理,并以此原理为基础设计了一种基于双极工艺的温度检测电路,电路的设计输出电压与温度成正比。通过使用Cadence Spectre仿真工具对电路的功能进行仿真,结果表明该电路在-40℃~120℃内能正常工作,输出的检测电压与温度呈比较精确的正比关系,偏差仅为0.01V。

主 题 词：双极工艺 温度检测 PTAT 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-1070.2011.04.009

馆 藏 号：203525024...