提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法

作     者：王宏伟 

作者机构：意法半导体研发(深圳)有限公司 

出 版 物：《今日电子》 (Electronic Products)

年 卷 期：2008年第4期

页      码：41-42页

摘      要：伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展，设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷。现今流行的可测试性设计（DFT：Design For Testability）应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。

主 题 词：设计工程师 测试覆盖率 DFT 集成电路制造工艺 可测试性设计 制造过程 良品率 芯片 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0814[工学-地质类] 082301[082301] 0823[工学-农业工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-9606.2008.04.006

馆 藏 号：203525047...