具有大开孔接管结构的椭圆封头边界效应

作     者：郭崇志 陈文昕 纪昌盛 Guo Chong-zhi;Chen Wen-xin;Ji Chang-sheng

作者机构：华南理工大学工业装备与控制工程学院广东广州510640 

出 版 物：《华南理工大学学报（自然科学版）》 (Journal of South China University of Technology(Natural Science Edition))

年 卷 期：2006年第34卷第4期

页      码：106-110页

摘      要：通过理论计算分析了椭圆封头大开孔结构的一般情况,即两个相互干涉的边界对封头结构性能的影响问题.发现当开孔率达到90%(即r/R=0.9)时,尽管两个干涉的边界相距很近,但开孔边界的应力集中问题仍然可以按接管边界单独存在的情况进行处理.这一发现表明,开孔率较大的情况下,边界效应的相互干涉和影响应当加以考虑的传统观点需要加以修改,从而为提供更简洁的工程设计方法打下了基础.

主 题 词：椭圆封头 大开孔 接管 边界效应 

学科分类：0810[工学-土木类] 080704[080704] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 0805[工学-能源动力学] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1000-565X.2006.04.023

馆 藏 号：203525490...