基于STM32的全相位FFT相位差测量系统

作     者：邱良丰 刘敬彪 于海滨 QIU Liangfeng;LIU Jingbiao;YU Haibin

作者机构：杭州电子科技大学电子信息学院杭州310018 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2010年第33卷第3期

页      码：357-361页

摘      要：针对军用和民用工程领域信号相位差测量的需要,基于全相位测量理论,使用ARM公司的高性能32Bit CortexM32内核处理器STM32F103,设计并制作了一个低成本,结构简单,处理速度快而有效的相位差测量系统,通过采样了127个点,处理后做64个点的FFT,实现了信号相位差的测量。测试结果表明有效分辨精度为1度。

主 题 词：相位测量 STM32 全相位FFT 仿真测试 

学科分类：08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2010.03.023

馆 藏 号：203533639...