提升信心、简化设置,LTE芯片与终端设计师获福音

作     者：刘辉 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2011年第28卷第6期

页      码：8-9页

摘      要：历史上EDA公司和测试仪器厂家从来没有直接合作过,这次面对复杂、耗时的LTE、LTE Advance芯片以及终端测试,新思科技和R&S展开了合作。

主 题 词：终端测试 LTE 芯片 设计师 信心 设置 测试仪器 EDA 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 081001[081001] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-2583.2011.06.003

馆 藏 号：203534024...