功率型发光二极管的寿命与失效分析

作     者：钱可元 刘洪涛 纪春绍 QIAN Keyuan;LIU Hongtao;JI Chunshao

作者机构：清华大学深圳研究生院半导体照明实验室广东深圳518055 上海飞机设计研究院上海200235 山东省肿瘤医院济南250001 

基　　金：国家"863"计划项目(2008AA03A194) 广东省发展平板显示产业财政扶持资金项目(20x80902) 深圳市产学研和公共科技专项资助项目(08CXY-14 SY200806300244A) 深圳市南山区科技研发资金资助项目(2009003) 

出 版 物：《半导体光电》 (Semiconductor Optoelectronics)

年 卷 期：2011年第32卷第3期

页      码：331-335页

摘      要：可靠性是影响发光二极管应用的一个重要因素。对1 W大功率发光二极管分批在不同电流及不同结温下进行试验,分析了电流和结温对功率型发光二极管寿命的影响,应用应力加速模型推测在不同电流或结温条件下发光二极管的寿命,同时研究了试验过程中发光二极管的光电性能的变化,探索其失效机理,为功率型发光二极管的应用提供参考。

主 题 词：功率型发光二极管 可靠性 性能退化 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.16818/j.issn1001-5868.2011.03.009

馆 藏 号：203549459...