其它集成电路

出 版 物：《电子科技文摘》 (Sci.& Tech.Abstract)

年 卷 期：2001年第10期

页      码：34-35页

摘      要：0116674基于BST技术的ASIC设计[刊]/吴兰臻//测控技术.—2001,20(6).—44～46,49(E)专用集成电路(ASIC)的测试需要设计一个专用测试集,测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC,其测试过程简便快捷,不需要复杂和昂贵的测试设备,可降低成本,提高产品质量。

主 题 词：专用集成电路设计 复用段适配功能 提高产品质量 边界扫描测试 测试过程 方案设计 测控技术 电子技术应用 技术设计 测试设备 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203555719...