高倍速光盘抖晃测试系统设计

作     者：谢登科 齐国生 徐端颐 张启程 

作者机构：清华大学光盘国家工程研究中心北京100084 

基　　金：国家重点基础研究发展规划"973"资助项目(G19990330) 

出 版 物：《光电子．激光》 (Journal of Optoelectronics·Laser)

年 卷 期：2004年第15卷第3期

页      码：279-282页

摘      要：在脉冲计数法的基础上结合边沿检测技术,设计了一种可用于高倍速的光盘抖晃测试系统,代替传统的时间间隔分析仪(TIA)。系统最大测量误差仅504ps,最高可工作在32倍速下。基于现场可编程门阵列FPGA芯片实现,结构简单、精度高、成本低及测试速度快,在盘片质量检测和抖晃特性研究领域有广泛的应用前景和实用价值。

主 题 词：光盘 抖晃测试 系统设计 脉冲计数法 边沿检测技术 FPGA芯片 盘片质量检测 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1005-0086.2004.03.007

馆 藏 号：203555955...