Z箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪
作者机构：重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400030 中国工程物理研究院流体物理研究中心四川绵阳621900
基 金：国家自然科学基金(10576041) 国家863计划资助项目
出 版 物：《中国激光》 (Chinese Journal of Lasers)
年 卷 期：2009年第36卷第1期
页 码：115-118页
摘 要：为了测量z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱，利用椭圆聚焦原理，研制了一种椭圆晶体谱仪。以Si（111）椭圆弯晶作为色散分析元件，椭圆的离心率为0．9480，焦距为1348mm，布拉格角范围为30°～54°，谱线探测角范围为54°～103°，探测的波长范围为0．31-0．51nm。设计了半径为50mm的半圆型胶片暗盒，内装胶片接收光谱信号。分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响。在“阳”加速器装置上进行摄谱实验，胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱，实测谱线分辨率（λ／△λ）达300～500，波长与理论值吻合。
主 题 词：光学器件 等离子体光谱学 椭圆弯晶谱仪 Z箍缩 X射线
学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类]
核心收录：
D O I：10.3788/CJL20093601.0115
馆 藏 号：203563660...
