智能理论在BIT设计与故障诊断中的应用

作     者：温熙森 徐永成 易晓山 

作者机构：国防科技大学机电工程与仪器系 

出 版 物：《国防科技大学学报》 (Journal of National University of Defense Technology)

年 卷 期：1999年第21卷第1期

页      码：97-101页

摘      要：近２０年来机内测试（ＢＩＴ）技术从理论到应用取得了显著进展，已成为提高产品测试性和诊断能力的有效途径。本文概述了ＢＩＴ技术的特点，分析了国内外ＢＩＴ的发展趋势，对ＢＩＴ智能化从系统设计、信息处理到综合决策各阶段进行概括，对专家系统、神经网络、模糊理论、信息融合等智能理论在ＢＩＴ中的应用进行了综合分析。

主 题 词：机内测试 人工智能 BIT 故障诊断 电子设备 

学科分类：080903[080903] 12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081104[081104] 0835[0835] 0811[工学-水利类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

馆 藏 号：203564367...