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AVR单片机中TWI的模块化检测系统设计

AVR单片机中TWI的模块化检测系统设计

作     者:刘千杰 胡仁杰 马智勇 孙美东 Liu Qianjie;Hu Renjie;Ma Zhiyong;Sun Meidong

作者机构:东南大学电气工程学院南京210096 

出 版 物:《单片机与嵌入式系统应用》 (Microcontrollers & Embedded Systems)

年 卷 期:2011年第11卷第2期

页      码:39-41,45页

摘      要:主要利用AVR单片机中的TWI模块,构建了一个基于TWI总线的模块化检测系统。通过利用TWI总线相对于I2C总线的强大灵活性,增加了容错处理程序,提高了总线的稳定性和可靠性,使得整个检测系统的抗干扰性更强。在从机TWI程序设计上使用TWI中断,消除了等待TWINT置位所浪费的时间,提高了程序的执行效率。

主 题 词:TWI I^2C BUS 模块化 容错处理 

学科分类:08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D O I:10.3969/j.issn.1009-623X.2011.02.013

馆 藏 号:203564621...

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