基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究

作     者：葛勇 薛冰 Ge Yong;Xue Bing

作者机构：武警石家庄士官学校石家庄050061 

基　　金：国家自然科学基金项目金(51207167) 

出 版 物：《计算机测量与控制》 (Computer Measurement &Control)

年 卷 期：2014年第22卷第1期

页      码：9-12页

摘      要：针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。

主 题 词：模拟集成电路 可测性设计 功能测试 IEEE1149 4 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-4598.2014.01.003

馆 藏 号：203566004...