创新变革 客户至上 测试测量、控制和设计领域的科技盛宴 2012年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”在北京召开

作     者：安亚兰 

作者机构：<电子测量技术> 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2012年第35卷第11期

页      码：8-9页

摘      要：2012年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于2012年11月16日在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。这是美国国家仪器公司（N1）自2008年以来，时隔4年后再次选择北京召开此盛会。本届NIDays围绕“仪器·变革进行时”这一主题，打造了一场分享与交流的技术盛会，聚焦不同行业的成功应用，

主 题 词：NIDays 图形化 测试测量 设计 北京 系统 美国国家仪器公司 创新 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 081001[081001] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2012.11.003

馆 藏 号：203571224...