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TDX-200F透射电镜高压测试系统的设计与应用

TDX-200F透射电镜高压测试系统的设计与应用

作     者:董全林 于成交 杨彦杰 袁水平 吴国增 张春熹 姚骏恩 许春兰 王爱民 DONG Quan-lin;YU Cheng-jiao;YANG Yan-jie;YUAN Shui-ping;WU Guo-zeng;ZHANG Chun-xi;YAO Jun-en;XU Chun-lan;WANG Ai-min

作者机构:北京航空航天大学微纳测控与低维物理教育部重点实验室仪器科学与光电工程学院北京100191 北京电子科技职业学院北京100036 国营红峰机械厂湖北孝感432000 

基  金:国家科技支撑计划课题(2006BAK03A24) 

出 版 物:《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)

年 卷 期:2011年第30卷第6期

页      码:567-570页

摘      要:本文针对加速电压稳定度、电压值及加速电压纹波值性能指标设计了TDX-200F透射电镜高压电源测试系统。首先阐述了系统的工作原理,然后根据基本测试功能和主要技术指标设计了高压测试系统。该系统采取虚拟仪器技术,大大提高测试效率,经过现场调试,现已用于新研制的TDX-200F场发射枪透射电子显微镜高压系统测试中。实验证明该测试系统稳定、可靠,可用于高压电源系统性能指标的测试。

主 题 词:透射电子显微镜 高压测试系统 电压稳定度 电压纹波值 

学科分类:0808[工学-自动化类] 080803[080803] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.1000-6281.2011.06.016

馆 藏 号:203571246...

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