以更好的仪器协调提高测试处理能力

作     者：Andy Armutat 

作者机构：美国吉时利仪器公司 

出 版 物：《电子设计技术 EDN CHINA》 (EDN CHINA)

年 卷 期：2004年第11卷第3期

页      码：92-92页

摘      要：对于所有电子元件来说,测试速度都非常重要,尤其对于低价的两端或三端器件,如二极管和晶体管测试速度更是至关重要.例如,大多数类型的二极管在最终的检测中都要测试至少三个基本直流参数:正向电压(VF)、击穿电压(VR)和漏泄电流(IR).这些测试必须要求快速精确.

主 题 词：GPIB 记忆列表编程 测试性能 仪器协调 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

馆 藏 号：203577690...