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第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪问世

第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪问世

出 版 物:《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期:2005年第5卷第7期

页      码:47-47页

摘      要:日前,国内第一台拥有自主知识产权的可用于集成电路封装的检漏仪SFJ-251型氦质谱检漏仪在安徽合肥皖仪科技有限公司问世。SFJ-251型氦质谱检漏仪是该公司借鉴国外先进检漏技术和多年质谱生产经验设计而成的专门用于电子元器件检漏的仪器。该公司总经理臧牧先生表示,SFJ-251型氦质谱检漏仪不仅将被广泛用于集成电路封装,

主 题 词:集成电路封装 自主知识产权 氦质谱检漏仪 电子元器件 有限公司 经验设计 检漏技术 1型 总经理 

学科分类:080903[080903] 0202[经济学-财政学类] 02[经济学] 020205[020205] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号:203578011...

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