智能分析仪表PROFIBUS-DP接口的研发

作     者：李玉凯 白焰 高喜奎 郑源滨 LI Yu-kai;BAI Yan;GAO Xi-kui;ZHENG Yuan-bin

作者机构：华北电力大学控制与计算机学院北京102206 

基　　金：北京市教育委员会共建项目资助 

出 版 物：《化工自动化及仪表》 (Control and Instruments in Chemical Industry)

年 卷 期：2011年第38卷第1期

页      码：56-59,64页

摘      要：研究了PROFIBUS-DP现场总线基本理论和PROFICHIP公司推出的总线通信协议芯片VPC3的结构和功能,分析了PROFIBUS-DPV1协议、DPV2协议的扩展功能。在已有智能分析仪表的基础上,提出PROFI-BUS-DPV1智能从站接口的软硬件实现方法。采用"核心板+接口板"方式,集成模块化设计思想和自顶向下的设计方法,研发出一套嵌入式PROFIBUS-DP智能从站。

主 题 词：智能分析仪表 PROFIBUS-DP协议 通讯芯片VPC3 智能从站 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-3932.2011.01.014

馆 藏 号：203580273...