星用SoC片内容错方法研究
作者机构：北京控制工程研究所
出 版 物：《控制工程（北京）》
年 卷 期：2005年第2期
页 码：34-39页
摘 要：航天器的结构越来越复杂，体积在不断减小，集成电路技术也在不断的发展，为此，用SoC技术实现星载电子系统成为必然趋势。然而，空间辐射环境对系统的容错能力有特殊的要求。通过对故障模式的分析，发现单粒子翻转(SEU)故障的发生率要远远高于其它故障，对飞行器的危害也最为严重。本文分析了常见的SEU容错方法各自的优缺点。并针对基于SRAM的FPGA实现SoC时的容错方法进行了探讨。最后，通过对LEON处理器核的IU、Cache、存储控制器以及片上寄存器等典型逻辑分别采用不同方法进行容错设计，验证了几种容错方法的可行性，并给出了设计结果。
主 题 词：容错方法 SoC 集成电路技术 空间辐射环境 FPGA实现 单粒子翻转 Cache 存储控制器 电子系统 技术实现 容错能力 故障模式 SRAM N处理器 容错设计 航天器 发生率 飞行器 优缺点 SEU LEO 寄存器
学科分类：082304[082304] 08[工学] 080204[080204] 0802[工学-机械学] 0812[工学-测绘类] 0823[工学-农业工程类]
馆 藏 号：203593337...
