微硬盘动态特性测试系统设计与实现

作     者：王海卫 彭恺 陈颖 WANG Hai-wei;PENG Kai;CHEN Ying

作者机构：武汉国家光电实验室光电信息存储研究部华中科技大学计算机学院信息存储教育部重点实验室武汉430074 

基　　金：国家"863"项目(2005AA114180) 

出 版 物：《微处理机》 (Microprocessors)

年 卷 期：2008年第29卷第2期

页      码：127-130,134页

摘      要：硬盘动态机械特性对硬盘的性能有着重要的影响,对其进行精密而又高效的测量是硬盘生产所必须的。首先讨论了现有测量硬盘动态特性方法的优缺点,然后结合微硬盘的结构特点和生产要求,设计了一种测试微硬盘动态性能的方法和测试系统。该系统通过计算机与微硬盘通信,共同完成测试;它不受昂贵测试设备和苛刻测试环境的限制,具有多个微硬盘可并行测试的体系结构,满足实际生产线测试速度和测试精度要求。具体介绍了系统的工作原理,各个模块的设计与实现,并给出了测试结果。

主 题 词：微硬盘 测量方法 固件程序 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-2279.2008.02.040

馆 藏 号：203594273...