ASIC设计中测试矢量产生与验证

作     者：居水荣 

作者机构：无锡华晶矽科微电子有限公司设计所江苏无锡214061 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2001年第26卷第3期

页      码：42-47页

摘      要：介绍了ＡＳＩＣ设计过程中测试矢量的产生与验证步骤，包括激励编写规则、波形检查、测试矢量的获得以及测试矢量的验证。

主 题 词：专用集成电路设计 验证 测试矢量 激励 波形 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.13290/j.cnki.bdtjs.2001.03.012

馆 藏 号：203601679...