数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析

作     者：赵龙 

作者机构：上海集成电路设计研究中心测试部200001 

出 版 物：《集成电路应用》 (Application of IC)

年 卷 期：2001年第18卷第3期

页      码：19-22页

摘      要：本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。

主 题 词：数字集成电路 测试系统 逻辑测试单元 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-2583.2001.03.009

馆 藏 号：203602531...