用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度

作     者：James Cattrey Conor Power 

作者机构：美国模拟器件公司(简称ADI)精密转换器部 ADI公司仪器仪表积汽车转换器部 

出 版 物：《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World)

年 卷 期：2006年第4期

页      码：9-9页

摘      要：传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.

主 题 词：高精密度 准确度 IDC CDC 单芯片 分立器件 检测应用 电容检测 设计验证 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 080704[080704] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203604286...